增強 CTP10 的光譜測試能力揭（jiē）秘

2024-01-24 497

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光電流計（jì）（PCM）模（mó）塊設計（jì）用於測量來自外接光電二極管（PD）的光電流，從而增強器（qì）件測（cè）試平台 CTP10 的光譜測試（shì）能力。對於高速通信，接收端的（de） PD 通常進行反向偏壓，以改進檢測帶寬，因此需要對其進行測試，以了解它如何（hé）隨著反向偏壓發生變化（huà）。本文說明（míng）了利用 PCM 模塊，可以對 PD 在各種偏置電壓（yā）下進行測試，從而創建光-電流-電壓（LIV）曲線。


用PCM測量反向（xiàng）偏壓PD的光電（diàn）流

下圖是在1530 nm波長下對（duì） PD 進行 I-V 測（cè）量的示例（lì），所應用的光功率約為700 μW。該圖顯（xiǎn）示的清晰趨勢可以精準地描述 PD 的特性（xìng）。

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✸ 1530 nm波長（zhǎng）下 InGaAs PD 的 I-V 曲線示例。


這一（yī）結果（guǒ）表明，反偏 PD 可與 CTP10 結合使用以進行光譜（pǔ）鑒定（dìng），並證明 CTP10 可用於進（jìn）行LIV測量。

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✸ 全波段IL，ORL，PDL掃描測試係統

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