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LUNA公司的OVA5100是最快速、精確、高效的光矢量分析儀,可用千現代 光學設備和係統的損耗、偏振、色散等光學參(cān)數的(de)分析與測(cè)試,包括光子集成電路(PIC)。
單次測(cè)犀即可獲(huò)取光器件的所有參數
3秒內完成器件特性測(cè)試
完整的(de)偏振響應
單次掃描可同步測量:
-損耗(IL及RL)
-色散 (CD)
-群延時 (GD)
-偏振(zhèn)相關損耗(PDL)
-偏(piān)振模色散(PMD)和二階PMD -光時域響應
-瓊斯矩陣(zhèn)
-光學(xué)相位響應(yīng)
實時測量
友好的用戶(hù)界麵(miàn)
高(gāo)分辨率C和L波段(OVA5100)或O波段(OVA5113)測試能力
平麵光波導和矽光器件分析(xī)
光纖器件測晝
同時測量時域及(jí)頻域響(xiǎng)應
獲得完整的(de)光學傳(chuán)遞函數, 可用於改進器件模擬和模型