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產品：LUNA 6415 光器件分析儀

Luna 6415光器件分析儀采用（yòng）光頻域反射（shè）技術（OFDR），通過探測背向瑞利散射光或者透射（shè）光獲（huò）取其與距離的函數關係。Luna 6415作為光（guāng）子集成電路和矽光芯片的理想（xiǎng）分（fèn）析儀，得益於其超高的靈敏度和空間分辨率（20μm）。Luna6415單台儀器（qì）通過選擇反射或者透射模（mó）式就能完成IL、RL、長度等所有測試（shì），大大（dà）降低（dī）了測試成本，同時（shí）簡化了測試流程。相（xiàng）比（bǐ）其它測試係（xì）統，將（jiāng）大大增加測試產量。

回損（RL）和插損（IL）分析

反射和透射模式分析器件

光（guāng）路（lù）長度方向上的回損分布（bù）

RL和IL的光譜分析

探測和精準定位反射事件和測量光路長度（長達100米）

優化生產測試的速度、空間分辨率和精度：20μm采樣分（fèn）辨率

RL空間分布測試

IL自動測試和分析

延遲測量分（fèn）辨率可達亞皮（pí）秒

PLCs、光波導器件、AWGs和ROADMs等測試

耦合器、光開關和（hé）分束器等（děng）測試

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