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Santec的插回損測試儀(RLM-100)匯集了20年作為(wéi)電(diàn)纜組件測試市場領導者的行業反饋。該設備代表了下(xià)一代光學IL/RL測量技術。對關(guān)鍵硬件組件的改進使其在保持相(xiàng)同精(jīng)度的同時,測試速度(dù)比其他高(gāo)端測(cè)試解決方案快兩倍。
精確的(de)回損測試
自校準
機箱模塊化
無線集成積分球(qiú)
無需(xū)電(diàn)腦
可(kě)用於生產自動化(huà)
可進行條形碼控製
可對應XN1

生產環境和實驗(yàn)室