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Arden MPX-1A 環形通量（EF）測試儀

MPX-1A 環形（xíng）通量測試儀是全球行業領導者的首選（xuǎn），以其符合國際標準和可重複的（de）結果而聞名，設定了行業黃金標準。精確的環形通量測量對於評（píng）估多模網絡解決方案和確保光學係統的最（zuì）佳性（xìng）能至關重要。

Arden MPX-1C 環形（xíng）通量（liàng）（EF）測試儀

MPX-1C簡化了測量過程：隻需連接您的光源和（hé）跳線，係統即（jí）可實時測量模態發射（shè）條件。它采用最新的 CMOS 攝像頭技術，能夠快速準確（què）地進行測量，給出（chū）精確且不依賴用戶的結果。

Arden nPA-400 折射率（lǜ）分布測試儀

nPA-400 是獲取驗證標準光纖和特種光纖折射率數據的快速、簡便和低成本方法。

幹淨，高效的（de）圖形用戶界麵使用戶能夠以最少的培訓或經（jīng）驗充分表征其光纖特性。nPA-400提供準確且可重複的折射率數據，提供有關光纖設計和製造（zào）工藝的寶貴信息。

nPA-400 折射率分析儀使用改進的折射近場（chǎng）技（jì）術來分析光纖的端視圖灰度強度分布，以確定其完整的 2D 折射率分布。

Arden VFI 斷麵幹涉檢測係統

VFI 是一（yī）種幹涉檢測（cè）係統，專為檢查切割或拋光光纖的表麵質量和平（píng）整度而設計。用戶可（kě）以在 2D 和 3D 的各種不同視圖中查看其光纖，從而讓用戶全麵了解其切割或拋光過程。 VFI 幹涉儀已在研究、生（shēng）產和 QA 中（zhōng）一遍又一（yī）遍地證明了自己，我們從用戶那裏（lǐ）得到的反饋表明他們重視這些功能：

Arden MPX 環型通量（EF）測試儀

MPX模態（tài）測試儀（yí）是世界各地領先公司測試環形通量首選的儀器。隻需（xū）將（jiāng）光源和跳線連接到MPX,它就會實時測量模態的注入條件。

Arden FGC-G 光纖幾何（hé）參（cān）數測試儀

FGC-G光纖幾何測試係統提供了光纖端麵幾何形狀的高速自動測量。它采用了在標準IEC-60793-1-20附錄B中描述的基準測試法（RTM）: 視頻灰度（dù）技術。

暗視野照明

Arden FGC-P 光纖塗層幾何參（cān）數測試儀

FGC-P 光纖塗層幾何（hé）係統是一種緊湊、可靠的解決方案，用於測量光纖塗（tú）層的幾何特性，光纖塗層直徑為 100 μm 至 260 μm。這（zhè）種用戶友好的全自動係統可（kě）快速、直接地測量光纖塗層幾何參數，包括：塗層直徑，塗層非圓度，塗層-包層同心度

Arden ModCon 模式控製器

ModCon 模式控製器是一款輕盈，小巧的模塊，將修正你的LED 或VCSEL 光源，以提供可重複的符合環形通（tōng）量規定的注（zhù）入條件。

隻需插上MODCON 到您的光源將會為您提供一個穩定和一致的符合（hé）IEC62180-4-1:2009 EF 的輸出。

Arden CMC-1550 少模分析儀

CMC-1550少模分析儀（yí）是為測量光纖結構複雜的少（shǎo）模光纖和（hé）空心光纖的各模態特性而設計的。

它由兩（liǎng）個不同的單元-發射單（dān）元和接收單元組成（chéng），采（cǎi）用空間和光譜（pǔ）分辨成像(S2)技術來識（shí）別和表征光纖的單個模式，估計其模式相關的傳播損耗，並評估其模式耦合效應。

CMC-1550 獲得每種傳播模式的差分群延（yán）遲 (DGD) 以（yǐ）及與最（zuì）激發模式相比的（de）相對強度（dù）（或多徑（jìng）幹擾 (MPI)）。

它提供了對光纖內各個模式特性及其相互作用的全麵了解，有助（zhù）於重建被測（cè）光纖的傳播模式輪廓和導模相（xiàng）位。

光通信現（xiàn）場測試

光製（zhì）造業、科研和檢測

傳輸和數據（jù）測試

5G和移動通信測試

無（wú）線電監測（cè）和檢測

電磁（cí）輻（fú）射測量

交通專網測試

動（dòng）力維護檢測（cè）