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LUNA公司的OVA5100是最快(kuài)速、精確、高效的光矢量分析儀,可用千現代 光學設備和(hé)係統的損(sǔn)耗(hào)、偏振、色散等光學參數的分析與測試,包(bāo)括(kuò)光子集成電路(PIC)。
OBR4600是LUNA公(gōng)司獲(huò)獎產品背光反射計的最新型號。專(zhuān)用(yòng)於器件和短期(qī)網絡的測試及故障定位,OBR4600具有背光水平的靈敏度,從而(ér)獲得超高分辨率。高達10微米的空間分辨率、零死區、集成溫度(dù)和(hé)應力探測及加長模(mó)式,OBR4600提供了無可比擬的光纖測試能力。
Luna 6415光器件分析儀采用光頻域反射技術(shù)(OFDR),通過探測(cè)背向瑞利散射光或者透射光獲取其與距離的函數關係。Luna 6415作為光子集成電路(lù)和矽光芯片的理想分析儀,得(dé)益於其(qí)超(chāo)高的(de)靈敏度和空(kōng)間分辨率(20μm)。Luna6415單台儀(yí)器(qì)通過選擇反射或者透射模(mó)式(shì)就能完成IL、RL、長度等(děng)所有測試,大大降低了測試成本,同時簡化了測試流程。相比其它測試係統,將大大增加測試產量。
即可本(běn)機操作,也可以遠程操控,多個操作模式(shì)的全功能的全光纖偏振態控製器儀器(qì)。
PCD-104擾偏儀使用了全光纖技術,有效地打亂偏振態(tài)。PCD-104擾偏儀實現的消偏具有多種重要應用。對輸入光進行(háng)擾偏可以消除測試中由(yóu)於儀器的偏振敏感性帶來的測量不準確性,及由(yóu)於PDG引(yǐn)起的係統性能(néng)退(tuì)化的情況。擾偏儀還可用來簡化係(xì)統PMD監測。PCD-104具有*低的(de)插入損耗、回反、和剩餘相位和(hé)振幅調製等優越的性能(néng)。
ERM-202全波段消光比(bǐ)測(cè)試儀是一款單通道(dào)和雙通道(dào)可選的消光比測量儀,可實現1260~1650nm全波段測量。可用於雙路輸出保偏器件的消光比和功率比測量,例(lì)如: Y分支光纖陀螺(luó)IOC,保偏耦合器(PMC),偏振分束器(PBS),同樣也能評估消偏器的輸出偏振度。